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标  题: 超频伤害CPU的真相大揭密                aeroboy (转寄)(转载)
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标  题: 超频伤害CPU的真相大揭密 
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超频伤害CPU的真相大揭密
　有些人并不鼓励超频，其原因在于超频会降低CPU寿命或造成系统的不稳定然而这样的
回答必定无法满足许多人的求知欲望，以下为大家做更深入的分析。
超频对CPU的伤害
   有部分的人并不鼓励超频，在超频的情况下，系统死机或发生错误的可能性会增加，
这的确是不争的事实，但这仅仅是一种可能性而已。我要说的是，一个超频的系统，我
们还是可以把它搞的很稳定。另一个人们不鼓励超频的原因是，超频产生的高温会使CP
U降低寿命，这是今天所要讨论的重点。
   根据电子学理论，频率的提高（如果稳定）对于元件寿命不会有影响，但是频率变高
后，却会产生较高的热量，例如，如果P133是12W的话，P200=12*(1+(200-133)/133)=1
8W，多出这六瓦在这颗小小CPU里，如散热不好将会产生极高的温度，温度对半导体确是
一大杀手，所以如果你想超频的话，一定要有很好的散热条件。我们已经知道超频会产
生大量的热，使CPU温度升高，从而引发“电子迁移”现象，而为了超频，我们通常会提
高电压，如此一来，产生的热会更多。然而我们必须明白的是，并不是热直接伤害CPU，
而是热所导致的“电子迁移”现象（electromigration）在损坏CPU内部的芯片。很多人
说的CPU超到烧掉，其实严格来说，应该是高温所导致的“电子迁移”现象所引发的结果
。为了防止“电子迁移”现象的发生，我们必须把CPU的表面温度控制在摄氏５０度以下
，这样CPU的内部温度就可以维持在80度以下，“电子迁移”现象就不会发生。“电子迁
移”现象并非立刻就损坏芯片，它对芯片的损坏是一个缓慢的过程，或多或少会降低CP
U的寿命，假如你让你的CPU持续在非常高的温度下工作，那你的CPU可就......。
何谓“电子迁移”现象（electromigration）
    那么“电子迁移”到底是什么？“电子迁移”属于电子科学的领域，在１９６０年
代初期才被广泛了解，是指电子的流动所导致的金属原子的迁移现象。在电流强度很高
的导体上，最典型的就是IC内部的电路，电子的流动带给上面的金属原子一个动量（mo
mentum），使得金属原子脱离金属表面四处流动，结果就导致金属导线表面上形成坑洞
（void）或土丘（hilllock），造成永久的损害，这是一个缓慢的过程，一旦发生，情
况会越来越严重，到最后就会造成整个电路的短路（short），整个CPU就报销了。
    “电子迁移”现象受许多因素影响，其中一个是电流的强度，电流强度越高，“电
子迁移”现象就越显著。从CPU的发展史，我们可以发现，为了把CPU的die size缩小，
IC越做越小，线路做的越细越薄，如此，线路的电流强度就变的很大，所以电子的流动
所带给金属原子的动量就变的很显著，金属原子就容易从表面脱离而四处流窜，形成坑
洞或土丘。另外一个因素就是温度，高温有助于“电子迁移”的产生，这就是为什么我
们要把CPU的温度维持在50以下（手摸起来温温的）。至于温度是如何影响“电子迁移”
，有兴趣的朋友可以自己去研究。
总结：
   由以上的分析，我们了解超频会对CPU造成伤害的原因在于高温所引发的“电子迁移
”现象，所以只要我们作好散热，超频的危险会很小。
太平洋电脑信息网
　
　

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