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发信人: alphame (糊涂), 信区: METech
标 题: Cadence声称率先推出首款“良率诊断”工具
发信站: 哈工大紫丁香 (Thu Oct 28 18:01:05 2004), 转信
上网时间 : 2004年10月27日
Cadence设计系统公司宣称推出业界首款“良率诊断(Yield Diagnostics)” 工具——Encounter Diagnostics，据称该工具拥有加快纳米级IC设计良品率提升时间的新方法。
尽管设计和测试工程师可能在硅片调试的最初阶段利用诊断，该工具将主要被工艺和良品率工程师应用于IC制造环节。它为专注于IC设计工具的Cadence打开了一个新的市场。Cadence公司Encounter测试总经理Paul Estrada表示：“设计根本不受影响。这为我们提供了一个新的商机。”
Estrada指出，传统上业内采用基于自动化测试模型生成(ATPG)工具的诊断。它们在测试仪上观察错误类型，尝试推断出存在的逻辑错误。现有的工具“马力低，不太实用。”
他声称，Cadence的Encounter Diagnostics独到的特性之一是支持所有流行的ATPG工具。另一项是能够提供静态和动态诊断。用户能够对任何一种可能产生的错误进行建模。该工具授权价格从14.5万美元起。
http://www.eetchina.com/ART_8800350224_617681,681501.HTM.7cc4b165
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糊涂：一种用玉米面儿加水经高温熬制而成的液态食品。
做工虽然简单，但真正的糊涂，却是难得一见。
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