NanoST 版 (精华区)

发信人: ggnew (ggnew), 信区: NanoST
标  题: IEEE电子器件协会（EDS）代表团来我校做学术报告（请求置底两天）
发信站: BBS 哈工大紫丁香站 (Wed Mar 15 15:16:05 2006)

IEEE 电子器件协会（Electron Device Society）代表团访问我校，并将在行政楼举办关
于高级半导体器件和技术的学术报告，欢迎广大师生踊跃参加。

报告时间：3月17日 下午 13：30——17：00
报告地点：行政楼 113室
报告内容：
    
Low Frequency Noise Characterization of Advanced Semiconductor Materials and D
evices——主讲人：Cor Claeys教授（IEEE 电子器件协会主席、IEEE Senior Member、电
气化学协会Fellow、欧洲材料研究协会成员，来自 IMEC，Belgium（比利时微电子研究中
心））

Future CMOS Scaling and Its Manufacturing——主讲人：Hiroshi Iwai教授（IEEE 电
子器件协会前主席、IEEE Fellow、电气化学协会成员，来自Tokyo Institute of Techno
logy，Japan(日本东京工业大学)）

Robust Electrostatic Discharge (ESD) Protection in CMOS Technology——主讲人：
Juin J. Liou教授（IEEE 电子器件协会财总监、IEEE Senior Member，来自University 
of Central Florida, USA）

RF CMOS Comes to Reality——主讲人：Albert Wang教授（IEEE 电子器件协会副主席，
来自Illinois Institute of Technology，USA（美国伊利诺斯工学院））


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