Science 版 (精华区)

发信人: zjliu (秋天的萝卜), 信区: Science
标  题: 表面分析技术4－－－RHEED(zz)
发信站: 哈工大紫丁香 (Fri May  9 10:51:52 2003) , 转信

Reflection High Energy Electron Diffraction以高能电子为探束(10-30keV)，
穿透深度和非弹性散射自由程都比较大，表面信息灵敏都比较低，因此采用掠入射
的办法，掠射角小于5度。
由于入射电子能量非常高，相应的Ewald球半径就非常大，其球结构近乎于平坦，
以至于与倒易杆相切，形成的不是衍射点，而是条纹。利用RHEED分析时，样品的
制备要求经过抛光，如果表面粗糙，凸起部分挡住了气体部分而产生衍射，得到了
一系列的衍射点。由于RHEED对表面形貌的敏感，经常用于MBE过程的检测。



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※ 来源:．哈工大紫丁香 http://bbs.hit.edu.cn [FROM: 202.118.229.86]