Science 版 (精华区)

发信人: zjliu (秋天的萝卜), 信区: Science
标  题: 表面分析技术10－－－FEM(zz)
发信站: 哈工大紫丁香 (Sun May 18 09:48:15 2003) , 转信

FEM主要用途于结构分析，与其他结构分析方法不同的是它主要是用于样品尖端的
结构分析。其主要原理为场致电子发射和热场电子发射，在强场的作用下，样品表
面的势垒变薄变厚，电子隧传出表面到真空，携带了样品的信息。实验装置：样品
焊接在支撑热丝上，位于球壳中心，荧光屏先喷上透明导电层再沉积荧光物质，样
品接负电位，荧光屏接正电位。因为样品需要作为针尖状，一般都采用电化学腐蚀
法，尖端处半径一般为几百纳米，由于尖端处电场很强，针尖可能会在强电流下被
打弯打坏，因此在一定高温下对针尖做热钝化处理，原子在高温下容易移动，在表
面张力的作用下，移到半径小的地方，使针尖变钝。有时候为了使针尖变尖，加一
电场处理，表面原子在电场作用下沿电场方向重建。由于这样的原因，FEM只能分
析很少种类的样品。

放大倍数：M=荧光屏的半径/（常数×针尖半径），由于针尖与荧光屏并非同心圆
，因此做一常数的修正，一般为1.5-2。
分辨率：电子从样品中发射出来，由于热运动的缘故，在切向方向也有运动，另外
电子本身的波动性比较大，因此限制了分辨率，约为20埃左右。

分析：针尖上不同晶面上电子的逸出功不同，反映在图中就是斑点亮度的不同，由
此可对样品的逸出功进行分析。此外还可以对吸附现象，表面扩散和表面相的生成
等现象进行分析。


--

※ 来源:．哈工大紫丁香 http://bbs.hit.edu.cn [FROM: 202.118.229.86]