Science 版 (精华区)

发信人: zjliu (秋天的萝卜), 信区: Science
标  题: 表面分析技术12---APS
发信站: 哈工大紫丁香 (Wed Jun 25 18:15:43 2003)

Appearance potential spectroscopy 不仅可以对表面组分进行分析,而且可以对
表面电子结构进行分析。一定能量E的初电子轰击样品表面,在初电子达到一定的
能量时,样品发射出粒子,测出粒子流强度与初电子能量关系的谱图。根据入射出
射粒子的不同可以分为SXAPS,AEAPS,XPAPS等。

实验装置非常简单,以电子为入射源时,一般不用电子枪,用阴极灯丝,阴极与靶
之间加一定电压,和收集级一并置于真空系统中,对于AEAPS,所测的Auger电子在
强大的能量背底中,测量此微弱信号需要用到锁定放大器。灯丝到样品距离约3mm
,靶流为10-20微安,扫描电压速率0.2-0.4V/s,扫描范围100V-1500V。能量分
辨率优于XPS,为0.3-0.5eV。

对于AEAPS,Auger电子处于强大的能量背景中,一般不采取测量直接谱,而是一次
微分谱或者二次微分谱。在表面成分分析中,对过渡元素分析的灵敏度很高,比如
Ti,Sc,La等,但对于贵元素如Au,Ag,Cu等灵敏度很低。由于激活能=结合能-电子
动能,还可以测得电子的结合能。收集级处的二次电子发射会对谱图分析带来误差
,在谱图分析中须考虑到这个因素。另外可以把收集级改造为接地的屏蔽套,三级
的APS可以变为二级.。

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※ 来源:.哈工大紫丁香 bbs.hit.edu.cn [FROM: 202.118.229.92]
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